一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
產(chǎn)品的外觀檢測
注明：電子元件光學(xué)篩選機(jī)，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
| 序號 | 檢測內(nèi)容 | 檢測方式 | 是否可檢 | 備注 |
| 1 | 印字面沾異物 | 正面環(huán)形光源檢測 | 可檢 |
|
| 2 | 沾銀、擴(kuò)散 | 正面環(huán)形光源檢測 | 可檢 | |
| 3 | 印銀方向反 | 正面環(huán)形光源檢測 | 可檢 | |
| 4 | 裂紋、崩缺 | 正面環(huán)形光源檢測 | 可檢 |
|
| 5 | 印銀、電鍍不良 | 正面環(huán)形光源檢測 | 可檢 |
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| 6 | 黑邊 |
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不可檢 | 特征不可見 |
注明：電子元件光學(xué)篩選機(jī)，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 2套 |
| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 2套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 2套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 2套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運(yùn)動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
電子元件光學(xué)篩選機(jī)外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
頂部正光檢測良品原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：電鍍不良
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印銀不良
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：崩缺
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：中柱卡異物
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：缺銀
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：沾銀
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印銀方向反
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：裂紋
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印字面異物
四、系統(tǒng)安裝要求:
三、樣件測試圖片:
頂部正光檢測良品原圖：
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：電鍍不良
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印銀不良
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：崩缺
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：中柱卡異物
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：缺銀
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：沾銀
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印銀方向反
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：裂紋
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：印字面異物
四、系統(tǒng)安裝要求:
設(shè)備放置的檢測空間: 安裝思普泰克視覺檢測系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備，需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。
環(huán)境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
更多電子元件光學(xué)篩選機(jī)篩選方案請登錄深圳思普泰克官網(wǎng)查閱：http://www.ae13t.cn
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